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      貴金屬XRF光譜儀

      簡要描述:XRF光譜儀– QualiX- P1非常適合貴金屬分析,是電子/電器和裝飾品加工的理想選擇。

      • 產品型號:QualiX-P1
      • 廠商性質:代理商
      • 更新時間:2023-11-13
      • 訪  問  量:1221

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      詳細介紹

      XRF光譜儀– QualiX- P1非常適合貴金屬分析,是電子/電器和裝飾品加工的理想選擇。
      分析儀的兩個主要應用是合金測定/化學分析,土壤分析和礦物分析
      合金測定/化學分析
      XRF分析儀在確定所檢查的合金以及對樣品的構成元素進行化學分析時可發揮*大的潛力。樣品制備中應清除所有灰塵,鐵銹,油脂等。如果樣品已經清潔,則無需進行制備,不干凈的樣品將對分析產生重大影響。有許多因素可能會導致合金樣品分析錯誤,例如樣品大小或清潔度等因素會干擾讀數。這些因素的解決方案可以很簡單,例如對樣品表面進行涂漆或涂層,或者如果樣品尺寸太小,可以同時使用多個樣品。
       
      性能:

       

      • 超高精度,*高性能
      • 電冷卻Si-Pin半導體探測器代替液氮冷卻探測器
      • 專門開發的軟件,界面友好
      • 自由選擇濾鏡和準直儀自動切換
      • 多變量非線性回歸程序;獨立矩陣效應校正模型
      • 三重安全保護模式;鋼材結構優雅時尚
      • 手動打開和關閉樣品室,安全便捷
      • 信噪增強器(SNE ),大大提高了測量的穩定性和準確性
      • 內置高分辨率攝像頭,方便用戶隨時分析樣品

       工作原理

      當某些元素受到X射線轟擊時,會發射出電子,從而使能量從外殼中釋放出來。電子可以從原子的內殼中彈出,從而使它們從更高的層次下降。當此事件發生時,稱為特征X射線


      X射線熒光過程
      a致輻射的x射線和特征性x射線是由電子束產生的,這是由XRF分析儀用X射線轟擊樣品的原子而發生的。每個電子躍遷都發射特征X射線(熒光光子),其能量等于特定元素在兩個殼之間的能量差。電子在相同元素的所有原子中具有相同的固定能級,每個類似的電子躍遷均發射相同離散能量的X射線。因此,當電子從同一元素的原子中射出時,發出的X射線是相同的。

      技術指標:
      可測元素      鉀(K?鈾(U 
      同時元素      同時分析24個元素
      測量對象      粉末,固體和液體
      測試時間      60s-300s
      能量分辨率   155±5)電子伏特
      分析精度      0.05
      管電壓        5kV?50kV
      管電流        50µA?1000µA
      檢出限        1 ppm
      環境溫度范圍  15-30°攝氏度
      相對濕度      35?70
      重量          30公斤
      工作電壓      交流110v / 220v
      箱體尺寸      310(寬)* 300(深)* 100mm(高)

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